Nicomp 380ZLS粒度儀在中國具有很活力的需求市場

　　Nicomp 380ZLS粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。Nicomp 380ZLS粒度儀根據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。

　　一、Nicomp 380ZLS粒度儀主要原理

　　當(dāng)光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發(fā)生散射現(xiàn)象.散射光的傳播方向?qū)⑴c主光束的傳播方向形成一個夾角θ。Nicomp 380ZLS粒度儀散射理論和實驗結(jié)果都告訴我們，散射角θ的大小與顆粒的大小有關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越小；顆粒越小，產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。在圖8中，散射光I1是由較大顆粒引起的；散射光I2是由較小顆粒引起的。進(jìn)一步研究表明，Nicomp 380ZLS粒度儀散射光的強度代表該粒徑顆粒的數(shù)量。這樣，在不同的角度上測量散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。

　　二、Nicomp 380ZLS粒度儀發(fā)展前景

　　1、國產(chǎn)粒度儀背靠中國這個活力的需求市場，Nicomp 380ZLS粒度儀企業(yè)可把握市場發(fā)展脈搏，且市場相對穩(wěn)定，是企業(yè)發(fā)展的強大后盾。

　　2、我國有著強大的研發(fā)隊伍和創(chuàng)新意識強烈的生產(chǎn)企業(yè)，可不斷地完善自身的技術(shù)等方面的不足。

　　3、Nicomp 380ZLS粒度儀在中國建立了眾多的營銷和服務(wù)機構(gòu)，這為我國與粒度儀生產(chǎn)廠商之間的技術(shù)等方面的交流提供了便利。